MOdellierung und Simulation

Prof. Dr.-Ing. Thomas Mussenbrock
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IEDF Sensor

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Nano Security

CMOS-kompatible RRAM-basierten Strukturen für die Implementierung von Physikalisch Nichtklonbarer Funktionen (PUF) und echten Zufallszahlengenerationen (TRNG)

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RF Plasma Jet

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