FTIR
FTIR
Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie || Der Einsatz der Infrarotspektroskopie (IR-Spektroskopie) bietet die Möglichkeit, die Wechselwirkung zwischen Infrarotstrahlung und Materie bzw. Molekülen zu untersuchen.
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Expertisen & Service
Unser Institut verfügt über verschiedenste Expertisen in den Bereichen Plasmadiagnostik, Plasmasimulation und Oberflächendiagnostik. Eine Auswahl unserer Expertisen sowie unserer Geräteausstattung finden Sie unter den unten aufgeführten Kategorien. Gerne geben wir unser Wissen im Rahmen von Workshops an Externe weiter.
Expertisen & Geräte
RFEA
Gegenfeldanalysator
Der Gegenfeldanalysator (GFA) ist eine Plasmadiagnostik mit der die Ionenenergieverteilung und der Ionenfluss auf eine Oberfläche in einem Niederdruckplasma gemessen werden kann.
OES
Langmuirsonde
Die Langmuir-Sonde (Langmuir probe – LP) ist eine elektrostatische Messmethode, bei der ein Leiter in das Plasma eingebracht wird.
Laserinduzierte Fluoreszenz Spektroskopie
Die laserinduzierte Fluoreszenz (LIF) ist ein aktives, optisch-spektroskopisches Messverfahren, das üblicherweise zur direkten Bestimmung der Grundzustandsdichte von Atomen, Molekülen oder Ionen verwendet wird.
OES
Mikrobiologie trifft auf Plasma
Die laserinduzierte Fluoreszenz (LIF) ist ein aktives, optisch-spektroskopisches Messverfahren, das üblicherweise zur direkten Bestimmung der Grundzustandsdichte von Atomen, Molekülen oder Ionen verwendet wird.
OES
Molekularstrahl-Massenspektrometer
Die Molekularstrahl-Massenspektrometrie (MBMS) stellt eine vielseitige Diagnostik zur Untersuchung von Plasmen dar.
MRP
Multipolresonanzsonde
Die Multipolresonanzsonde (Multipole Resonance Probe – MRP) ist eine Plasmadiagnostik, die mit echtzeitfähiger Elektronik live messen und auswerten kann. Sie liefert dabei in Niederdruckplasmen die Elektronendichte, die Elektronenstoßfrequenz sowie die Elektronentemperatur – also die wichtigsten Plasmaparameter.
OES
Optische Emissionsspektroskopie (OES)
Am AEPT stehen verschiedenste Spektrometer zur Verfügung, um die von den genutzten Plasmen emittierte Strahlung zu erfassen.
REM/EDX
Mit unserem Rasterelektronenmikroskop (REM) in Kombination mit einem Detektor zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) können wir schnell und unkompliziert plasmabehandelte Oberflächenstrukturen mit einer Auflösung im Nanometerbereich betrachten und ihre Elementzusammensetzung analysieren.
Weiterbildung
Gerne teilen wir unser Wissen mit Ihnen und Ihrem Unternehmen in Form von Seminaren, Workshops oder Beratungsgesprächen. Kontaktieren Sie uns diesbezüglich unter Kontakt.
Wir freuen uns auf Ihre Nachricht!
